#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计，其中（39）接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI

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#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计，其中（39）接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI

39.现代电子设计方法包含了可测试设计，其中（39）接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BIST B.JTAG C.UART D.USB

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