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问题来自于
福大大
北京/西昌学院/研发工程师
#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI
39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BIST B.JTAG C.UART D.USB
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#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI
😊