没有新消息
更多内容
0 条评论
暂无评论,快来写下您的评论
问题来自于
福大大
#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI
39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BIST B.JTAG C.UART D.USB
2798
阅读
3
回答
@2024 职Q 智联招聘
合作商务邮箱:sbyh@zhaopin.com.cn
友情链接
HR圈内招聘/ 同道问答/ 人资知识社区
51社保/ X职场/ HR Bar/ 中人网/ 研招网
京ICP备17067871号 合字B2-20210134
京公网安备 11010502030147号
人力资源许可证:1101052003273号
网上有害信息举报专区
违法不良信息举报电话:400-885-9898
关爱未成年举报热线:400-885-9898-7
朝阳区人力资源与社会保障局 监督电话: 57596212,65090445
#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI
正确答案是B.JTAG。 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中JTAG接口是IC芯片测试的标准接口。JTAG是一种用于测试硬件的接口,它是一种国际标准,被广泛应用于芯片的测试中。因此,答案为B。