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福大大
#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI
39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BIST B.JTAG C.UART D.USB
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#福大大架构师每日一题#39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 A.BI
正确答案是B.JTAG。 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中JTAG接口是IC芯片测试的标准接口。JTAG是一种用于测试硬件的接口,它是一种国际标准,被广泛应用于芯片的测试中。因此,答案为B。